資源

缺陷檢測要更快、更精準,需要的不僅是優越的設備。Sonix™ 提供解決客戶挑戰所需的專業知識技術。這是您非破壞性測試 pdf 資源的來源,包括技術文件、產品資料等等資訊,可協助您使缺陷檢測和生產率最佳化。

技術文件

在這裡,您將會發現晶圓和半導體封裝應用、超音波掃描和分析技術、最佳做法及其他非破壞性測試的深入探討-pdf 格式。

產品資料

了解更多有關 Sonix™ 超音波掃描檢測儀、Sonix™ S-Series 探頭、軟硬體選擇的資訊。Sonix™ 系統可以設定在各種應用中提供最佳可能結果。

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